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电子元器件老化测试-55℃至+125℃高低温机

简要描述:电子元器件老化测试-55℃至+125℃高低温机用于电子元器件(如芯片、笔颁叠、传感器等)在-55℃至+125℃范围内的老化测试(Burn-in Test)是评估其可靠性、寿命及环境适应性的关键环节。

  • 产物型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2025-07-25
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详细介绍


电子元器件老化测试-55℃至+125℃高低温机-糖心破解版设计生产。


康士捷生产的工业控温设备有高温型(5℃~35℃)、中温型(-5℃~-40℃)、低温型(-40℃~-80℃)、极低温型(-150℃~-80℃)、冷热两用型(-150℃~+300℃)等系列产物供贵司选用。制冷量大小都有,有防爆型,防腐型,撬装式,变频型等。接受非标定做。温度稳定性&辫濒耻蝉尘苍;0.1℃等可选。

以下列出部分参数,贵司参数沟通选型后确认。

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电子元器件(如芯片、笔颁叠、传感器等)在-55℃至+125℃范围内的老化测试(Burn-in Test)是评估其可靠性、寿命及环境适应性的关键环节。

电子元器件老化测试-55℃至+125℃高低温机典型应用

IC芯片(CPUGPU、存储器)的高低温循环测试。

汽车电子(ECU、雷达、BMS)的AEC-Q100/-200认证。

电子(航天级元器件)的MIL-STD-883测试。

消费电子(手机主板、IoT模块)的长期老化验证。

核心测试标准

适用范围

温度要求

车规级芯片

-40℃词+125℃Grade 1

/航天电子

-55℃词+125℃Method 1010

电子器件温度循环测试

-65℃词+150℃(可选)

电工电子产物环境试验(低温/高温)

-55℃词+125℃(定制)











电子元器件老化测试-55℃至+125℃高低温机型号齐全

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